Većina industrijskih CT-a imaGranitna struktura.Možemo proizvoditisklop granitne baze stroja s vodilicama i vijcimaza vaš prilagođeni RTG i CT.
Optotom i Nikon Metrology pobijedili su na natječaju za isporuku rendgenskog kompjutoriziranog tomografskog sustava velike ovojnice Tehnološkom sveučilištu Kielce u Poljskoj.Sustav Nikon M2 visoko je precizan, modularni sustav inspekcije koji sadrži patentirani, ultraprecizan i stabilan 8-osni manipulator izgrađen na granitnoj osnovi mjeriteljske kvalitete.
Ovisno o primjeni, korisnik može birati između 3 različita izvora: Nikonov jedinstveni mikrofokusni izvor od 450 kV s rotirajućom metom za skeniranje velikih uzoraka visoke gustoće s mikrometarskom rezolucijom, minifokusni izvor od 450 kV za skeniranje velikom brzinom i mikrofokusni 225 kV izvor s rotirajućom metom za manje uzorke.Sustav će biti opremljen i detektorom ravnog panela i Nikonovim detektorom Curved Linear Diode Array (CLDA) koji optimizira prikupljanje X-zraka bez hvatanja neželjenih raspršenih X-zraka, što rezultira zadivljujućom oštrinom i kontrastom slike.
M2 je idealan za pregled dijelova u rasponu veličina od malih uzoraka niske gustoće do velikih materijala visoke gustoće.Instalacija sustava odvijat će se u bunkeru posebne namjene.Zidovi od 1,2 m već su pripremljeni za buduće nadogradnje na više energetske raspone.Ovaj sustav s punom opcijom bit će jedan od najvećih M2 sustava na svijetu, nudeći Sveučilištu u Kielceu izuzetnu fleksibilnost za podršku svim mogućim aplikacijama iz istraživanja i lokalne industrije.
Osnovni parametri sustava:
- Minifokusni izvor zračenja od 450 kV
- 450kV mikrofokusni izvor zračenja, tip "Rotating Target".
- Izvor zračenja od 225 kV tipa “Rotating Target”.
- Izvor zračenja 225 kV “Multimetalna meta”.
- Nikon CLDA linearni detektor
- panel detektor razlučivosti od 16 milijuna piksela
- mogućnost testiranja komponenti do 100 kg
Vrijeme objave: 25. prosinca 2021