Tijekom proizvodnje zaslona s ravnim zaslonom (FPD), provode se testovi za provjeru funkcionalnosti panela i testovi za procjenu procesa proizvodnje.
Testiranje tijekom procesa niza
Kako bi se testirala funkcija panela u procesu niza, test niza se izvodi pomoću uređaja za ispitivanje polja, sonde polja i jedinice sonde.Ovaj test je osmišljen za testiranje funkcionalnosti sklopova TFT polja formiranih za ploče na staklenim podlogama i za otkrivanje bilo kakvih prekinutih žica ili kratkih spojeva.
U isto vrijeme, kako bi se testirao proces u procesu polja za provjeru uspješnosti procesa i povratne informacije o prethodnom procesu, za ispitivanje TEG koriste se ispitivač parametara istosmjerne struje, TEG sonda i jedinica sonde.("TEG" označava skupinu ispitnih elemenata, uključujući TFT-ove, kapacitivne elemente, žičane elemente i druge elemente kruga polja.)
Ispitivanje u procesu jedinice/modula
Kako bi se testirala funkcija panela u ćelijskom procesu i modularnom procesu, provedena su ispitivanja rasvjete.
Ploča je aktivirana i osvijetljena za prikaz probnog uzorka za provjeru rada ploče, nedostataka u točkama, nedostataka u liniji, kromatičnosti, kromatske aberacije (nejednolikost), kontrasta itd.
Postoje dvije metode inspekcije: vizualna inspekcija panela od strane operatera i automatizirana inspekcija panela pomoću CCD kamere koja automatski provodi detekciju kvara i testiranje prolaznosti/padnosti.
Za pregled se koriste testeri stanica, sonde i jedinice sondi.
Test modula također koristi sustav za otkrivanje i kompenzaciju mura koji automatski detektira mura ili neravnine na zaslonu i eliminira mura kompenzacijom kontroliranom svjetlošću.
Vrijeme objave: 18. siječnja 2022